Войти в систему

Home
    - Создать дневник
    - Написать в дневник
       - Подробный режим

LJ.Rossia.org
    - Новости сайта
    - Общие настройки
    - Sitemap
    - Оплата
    - ljr-fif

Редактировать...
    - Настройки
    - Список друзей
    - Дневник
    - Картинки
    - Пароль
    - Вид дневника

Сообщества

Настроить S2

Помощь
    - Забыли пароль?
    - FAQ
    - Тех. поддержка



Пишет dibr ([info]dibr)
@ 2008-11-23 21:54:00


Previous Entry  Add to memories!  Tell a Friend!  Next Entry
Документ
     Документ. На полном серьезе:


     [...],
     Программа и методики испытаний.

     [...]
     4 Определяемые показатели и точность их измерения
     4.1 Перечень определяемых показателей
     
Наименование показателяПункт требований ТЗЕд. изм.Номинальное значениеПредельные отклонения или пределы измененияПункт методики
1. Проверка целостности образцов и комплектности партии Шт.45±25.1


     [...]

     5 Методики проведения испытаний
     5.1 Проверка целостности образцов и комплектности партии
     Провести визуальный осмотр партии и сосчитать количество образцов, затем визуальный осмотреть каждый образец на предмет целостности, отсутствия грубых дефектов и загрязнений. Занести результаты в протокол.


     Вот такой фигнёй иногда приходится страдать на работе :-)


(Читать комментарии) - (Добавить комментарий)


[info]dibr@lj
2008-11-23 16:55 (ссылка)
К счастью, не алмазы :-)
Если я ничего не путаю, это образцы многослойных Si-C/Si-C-W плёнок на кремниевых и металлических подложках. Не моя специфика, я так, мимо проходил, поэтому подробностей куда и зачем оно нужно разглашать не буду в общем-то и не знаю :-)

Но погрешность +-2 в партии меня тоже радует, да.

(Ответить) (Уровень выше)


(Читать комментарии) -